Il 15 aprile 2016 Hitachi ha lanciato in tutto il mondo il nuovo microscopio elettronico a scansione FlexSEM 1000. La struttura del prodotto è compatta, occupa una piccola superficie, ma la risoluzione non perde un grande elettroscopio e, allo stesso tempo, è estremamente semplice da usare, praticamente senza addestramento. Design compatto con risoluzione di 4 nm.
Il microscopio elettronico a scansione consente l'osservazione ad alta ingrandimento della superficie del materiale e l'analisi elementare ad alta precisione, con ampie applicazioni in settori come la nanotecnologia, le scienze della vita, la progettazione di prodotti e l'analisi dei guasti. Negli ultimi anni, la necessità di osservare strutture superficiali e analisi elementari con elettroscopi a scansione è aumentata e un numero crescente di utenti desidera utilizzare il microscopio elettronico a scansione in spazi limitati come linee di produzione, linee di controllo della qualità e aree di ufficio. Pertanto, il microscopio elettronico a scansione di piccole dimensioni, facile da usare e ad alta risoluzione è molto interessato. Con una larghezza di 450 mm e una lunghezza di 640 mm, il sistema FlexSEM 1000 ha un volume ridotto del 52% rispetto al modello SU1510, un peso ridotto del 45% e un consumo di energia ridotto del 50% e una connessione di alimentazione standardizzata. L'unità di alimentazione può essere separata dall'unità di alimentazione e l'installazione è molto flessibile.
FlexSEM 1000 è dotato di un sistema ottico elettronico di ultima generazione e di rivelatori ad alta affidabilità e sensibilità con risoluzioni fino a 4 nm. FlexSEM 1000 dispone di una vasta gamma di funzionalità di automazione che consentono di scattare rapidamente immagini di alta qualità anche per i primi operatori. Inoltre, la nuova funzione di navigazione "SEM MAP" consente di navigare con una varietà di immagini ottiche o fotografie elettroscopiche, passando rapidamente e con precisione a un campo visivo ad alta ingrandimento di interesse con un solo clic.

Caratteristiche:

a. Attraverso rilevatore elettronico secondario ad alta sensibilità, rilevatore di dispersione posteriore, rilevatore a basso vuoto (UVD)^*2Osservazione di immagini di alta qualità a bassa accelerazione/basso vuoto

b. Semplice da usare, anche per i principianti possono scattare immagini di alta qualità

c. Nuova funzione di navigazione "SEM MAP" per un rapido blocco della vista

Grande finestra (30 mm)²Sistema di spettroscopia SDD per un'analisi rapida della composizione degli elementi^*2

*1 Separare la console e la cassa di alimentazione durante l'impostazione sul desktop

*2 Opzionale

Progetto		Contenuto
Capacità di decomposizione*3		4,0 nm @ 20 kV (SE: modalità ad alto vuoto) 15,0 nm @ 1 kV (SE: modalità ad alto vuoto) 5,0 nm @ 20 kV (BSE: modalità basso vuoto)
Tensione di accelerazione		0.3 kV ～ 20 kV
ingrandire		6× - 300.000× (ingrandimento del film) 16× - 800.000× (ingrandimento visualizzato)
Modalità basso vuoto		Intervalo vuoto: 6-100 Pa
Pistola elettronica		Filo di lampada di tungsteno
Banca campioni		Motore automatico a 3 assi X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90°
Dimensioni massime del campione		Diametro 80 mm
Altezza massima del campione		40 mm
Dimensioni		Capacità: 450 (W) x 640 (D) x 670 (H) mm Unità di alimentazione: 450(W) x 640(D) x 450(H) mm
Opzione rilevatore		Rilevatore elettronico secondario a basso vuoto ad alta sensibilità (UVD) Rilevatore a raggi X a dispersione energetica (EDS)