Microscopio elettronico a scansione di grado di ricerca per l'analisi dei materiali utilizzando Zeiss EVO 18
Soluzione completa di analisi dei materiali
EVO 18 è un microscopio analitico con la capacità di gestire tutti i tipi di materiali, fornendo un'eccellente qualità di imaging. La configurazione standard include interfacce per spettroscopia a dispersione energetica (EDS) e spettroscopia (WDS). L'aggiornamento della sorgente luminosa LaB6 ad alta luminosità aumenterà le prestazioni attuali della sonda relative all'analisi dei raggi X a un livello completamente nuovo. Il rivelatore di elettroni backspresed a diodi a cinque segmenti (BSE) del microscopio elettronico a scansione EVO 18 aiuta a migliorare le prestazioni a bassa tensione e a fornire informazioni morfologiche più ricche. Per i campioni non conduttivi, la tecnologia di rivestimento del fascio di elettroni può migliorare efficacemente la risoluzione. Indipendentemente dalla difficoltà delle applicazioni di analisi dei materiali, EVO 18 rende sempre i campioni chiari e distinguibili.
Zeiss EVO 18: più semplice, intelligente e altamente integrato
Caso di applicazione di Zeiss EVO 18
Applicazione illimitata
Personalizza il sistema in base alle tue esigenze utilizzando le opzioni aggiuntive EVO 18 Research e EVO 18 Particle Analyzer.
SmartBrowse |
SmartStitch |
Opzioni del rivelatore |
Parametro tecnico
EVO 18 parametri principali:
Percorso aggiornabile futuro: tubo di rivestimento del fascio di elettroni
Archiviazione immagine:
Risoluzione: fino a 3072 x 2304 pixel
Raccolta dei segnali attraverso il metodo della media integrale
Visualizzazione immagine:
Display a schermo piatto di alta qualità in grado di visualizzare immagini SEM con una risoluzione di 1024 x 768 pixel
Supporto della visualizzazione a doppio canale
Controllo del sistema:
SmartSEM * * interfaccia utente grafica gestita tramite mouse e tastiera
Windows ® 7 versioni multilingue
Necessità pratiche:
100 - 230 V, 50 o 60 Hz monofase
Non c'è bisogno di raffreddamento ad acqua
Dotato di joystick, tastiera standard americana, pannello di controllo standard americano e mouse
*OptiBeam - Controlla la massima risoluzione, il massimo campo visivo o la profondità ottimale di campo con un tubo attivo
**SmartSEM -5a Generazione Scansione Microscopio Elettronico Controllo Immagine Interfaccia Utente