ST-X4Piattaforma di prova delle sonde

Caratteristiche del prodotto:

1. La struttura complessiva occupa un piccolo spazio

2. Il corpo è leggero e conveniente nel prezzo

3，LED/LD/PDL'intensità della luce/lunghezza d'onda/Prove optoelettroniche

4Al massimo, può essere posizionato6Un supporto della sonda che può eseguire test RF,

5，facoltativo4cun/8Mandrino di adsorbimento vuoto a pollici, adatto per la prova del wafer,

6La stazione della sonda è applicata a varie università/istituto/Prove elettroniche a semiconduttore e altri campi

Configurazione e specifiche del prodotto：

1，per aspirazioneChuck 4Acciaio inossidabile a polliciChuckRaggio di percorrenzaXdirezione25mm/Ydirezione25mm

2，ChuckPrecisione mobile10MicroniChuckAngolo di rotazione0-360°

3，potenza220VAC ,60HzVuoto-250mmHg,7liter/min

4，Intervallo di dimensioni approssimativamente lungoxlargoxAltezza di circa400mmx300mmx500mmPeso approssimativamente25kg(Incluso)CCDCamera), cinque，Accessori opzionali:Supporto della sonda, sistema del microscopio, dispositivo di imballaggio, ammortizzatore, camera oscura, placcatura d'oroChuckBracci della sonda, sonde, cavi schermati di prova e componenti del connettore, ecc

Descrizione del supporto della sonda:

1，Dimensioni esterne80x90x110mm,

2，Il peso del corpo è approssimativamente2.2kg

3， X-Y-ZPortata mobile13x13x13mm,

4，Precisione mobile3μm

5，Metodo di fissaggio base Base magnetica regolabile

6，Aggiornamento: Apparecchio di regolazione universale (da acquistare separatamente)

Descrizione della sonda: