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Microscopio polarizzato per analisi di fase minerale XPL-40
Microscopio polarizzato per analisi di fase minerale XPL-40
Dettagli del prodotto

Uso del prodotto

XPL-40La configurazione di obiettivi a campo piatto senza sollecitazione, la qualità dell'immagine è migliore;Lo strumento utilizza le proprietà di polarizzazione della luce per l'identificazione di sostanze a doppia riflessione, strumento essenziale per l'osservazione di polarizzazione singola, osservazione di polarizzazione ortogonale, osservazione di luce conica e microfotografia; Allo stesso tempo con gessoλFilm, Madre delle nuvoleλ/4Gli accessori come le lamelle, i cuffi al quarzo e le scale mobili sono un nuovo gruppo di prodotti con funzionalità più completeIn.Sono ampiamente utilizzati in molti settori, come le fibre chimiche, l'industria dei semiconduttori e l'ispezione dei farmaci.

Specifiche del prodotto

Parametri specifici XPL-40
Sistema ottico Lunghezza del cilindro meccanico a distanza limitata 160mm
Osserva la testa Testa a cerniera, inclinazione di 30°, vista regolabile
Trioculare, inclinazione di 30°, visibilità regolabile, fototrasmissione al 100%  
Occhiali Occhiali di divisione WF10X (Φ18mm) / WF10X
Obiettivi a campo piatto senza stress(Slide senza coperchio) ingrandimento Apertura numerica (N.A.) Distanza di lavoro (W.D.)
0.1 19.8
10× 0.25 8.8
40×(S) 0.6 3.73
60×(S) 0.75 1.34
Moltiplicare 40×-600×
Rotazione degli obiettivi Convertitore di oggetti a quattro fori
Posto trasporto Supporto rotativo 360° (diametro: Φ150 mm), regolabile al centro, con dispositivo di blocco, valore del cursore 6
Organizzazione di focalizzazione Meccanismo coassiale grosso e microdinamico con blocco e limite di posizione
0,002 mm, gamma di messa a fuoco 30 mm
Dispositivo di polarizzazione Polarizzatore rotabile a 360°, con quattro letture 0, 90, 180 e 270, polarizzatore a scorrimento
Compensatore Lamina di gesso λ, Lamina di maglia λ/4, Persistenza al quarzo
Lente intermedia Ispettore integrato, commutazione libera tra osservazione normale e osservazione polarizzata, rotazione a 360° nella direzione della polarizzazione, con scala, valore della griglia del cursore 12, specchio Bohr a spinta, regolabile al centro
Sistemi di illuminazione Focus NA.1.25 con barra di apertura variabile e barra di campo visivo regolabile, supporto a filtro a colori
Collettore di luce (illuminazione alogena applicabile), 6V / 20W alogena, luminosità regolabile
Accessori aggiornabili Occhiali: WF16X (Φ11mm)
Obiettivo: 20 × / 50 × / 80 × / 100 × (secco)
Scala mobile: gamma di movimento 30mmX25mm
Riscaldamento ad alta temperatura
Sistema di imaging digitale ad alto pixel PUDA
Software statistico di analisi delle particelle
Nota: ●per gli accessori standard, ○per gli accessori aggiornabili

Completezza degli strumenti

Completezza degli strumenti
1 strumento host 1 unità 4 occhiali 2 1 supporto rotante Compensatore 3 pezzi 1 fusibile di riserva
2 Occhiali 1 gruppo 5 Divisione degli occhiali 1 1 gruppo di molle per pezzi 1 cavo di alimentazione nazionale 1 copertura antipolvere per strumenti
3 Oggetti 4 6 misura 1 pezzo 9 Filtro colore 2 pezzi 1 lampadina di ricambio 1 set di file casuali

Configurazione delle applicazioni digitali

Sistema di telecamere per computer XPL-40C Fotocamera digitale XPL-40D
XPL-40 Microscopio Tripolarizzato XPL-40 Microscopio Tripolarizzato
Specchio adattatore CCD di alta qualità Specchio ritardo per fotocamere digitali professionali
Puda 3 milioni di telecamere per microscopio a chip importato tipo USB (con chipset APTINA ad alte prestazioni negli Stati Uniti / comunicazione ad alta velocità USB2.0, alta risoluzione, ripristino del colore perfetto / tecnologia di rendering del colore brevettata Ultra-Fine) Camera digitale da 10 megapixel (Nikon/Sony consigliato)
Software di immagine professionale ToupView    

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