Il tubo a raggi X è situato sopra il campione di analisi, riducendo al minimo il rischio che la polvere fluttuante all'interno della camera di vuoto danneggi il tubo ottico e rende la preparazione del campione più rapida e semplice senza l'uso di collanti durante l'analisi del campione di polvere.
Possibilità di commutare direttamente la velocità di aspirazione e di svuotamento a velocità lenta e rapida per ottimizzare il trattamento dei campioni in polvere e in metallo.
Caratteristiche
Analisi ad alta precisione di diversi contenuti di diversi elementi di campioni in polvere e solidi
Il banco di campionamento di alta precisione soddisfa i requisiti di alta precisione dell'analisi delle leghe
Sistemi ottici speciali riducono gli errori causati dalle superfici irregolari del campione
La camera dei campioni può essere rimossa facilmente per la pulizia
Interfaccia di funzionamento semplice e altamente automatizzata
ZSX Primus III +
Rigaku ZSX Primus III+ misura rapidamente gli elementi atomici primari e secondari, dall'ossigeno (O) all'uranio (U), in una varietà di tipi di campioni con pochi standard.
Più affidabilità rispetto ai tubi di componenti ottici
ZSX Primus III + ha l'ottica innovativa di cui sopra configurazione. Grazie alla manutenzione della camera del campione, non c'è più bisogno di preoccuparsi di percorsi di fascio contaminati o di tempi di fermo. La geometria sopra i componenti ottici elimina i problemi di pulizia e prolunga il tempo di utilizzo.
Posizionamento dei campioni ad alta precisione
L'alta precisione del posizionamento del campione garantisce che la distanza tra la superficie del campione e il tubo a raggi X rimanga costante. Ciò è importante per applicazioni che richiedono alta precisione, come l'analisi delle leghe. ZSX Primus III+ dispone di una configurazione ottica unica per l'analisi di alta precisione progettata per ridurre al minimo gli errori causati da superfici non piatte nel campione, come perle di fusione e particelle compresse
Parametri di base di SQX con il software EZ-scan
La scansione EZ consente agli utenti di analizzare campioni sconosciuti senza impostazione anticipata. La funzione di risparmio di tempo richiede solo pochi clic del mouse e l'inserimento del nome del campione. In combinazione con il software parametrico di base SQX, può fornire i risultati XRF più accurati e veloci. SQX corregge automaticamente tutti gli effetti della matrice, compresa la sovrapposizione delle linee. SQX può anche correggere l'effetto di eccitazione secondaria di fotoelettronica (luce e elementi ultraleggeri), diverse atmosfere, impurità e diverse dimensioni di campione. L'utilizzo di librerie di corrispondenza e un programma di analisi di scansione perfetto migliora la precisione.
Caratteristiche
Analisi degli elementi da O a U
L'ottica sopra i tubi riduce al minimo i problemi di inquinamento
Piccola superficie e spazio di laboratorio limitato
Posizionamento dei campioni ad alta precisione
Componenti ottici speciali riducono gli errori causati dalla superficie del campione
Strumenti software di controllo dei processi statistici (SPC)
Il rendimento ottimizza l'evacuazione e le perdite di vuoto