Ellipsometro spettraleSENresearch 4.0

Ampia gamma spettrale e alta precisione spettrale

Gli elliptimetri spettrali SENresearch 4.0 coprono un'ampia gamma spettrale, da 190 nm (ultravioletti profondi) a 3500 nm (infrarossi vicini). Lo spettrometro a infrarossi Fourier FTIR fornisce un'alta risoluzione spettrale per l'analisi di membrane spesse fino a 200 μm di spessore.

Nessun movimento del dispositivo ottico (principio dell'analizzatore di scansione passo a passo)

Per ottenere i risultati di misurazione, non c'è movimento del dispositivo ottico durante l'acquisizione dei dati. Il principio dell'analizzatore di scansione a passo (SSA) è una caratteristica unica dell'ellipsometro spettrale SENresearch 4.0.

Doppio compensatore 2C Full Müller Matrix misurazione

Il principio SSA dell'analizzatore di scansione a passo è esteso con l'innovativo design 2C a doppio compensatore che consente la misurazione della matrice Mueller completa. Il design è un accessorio aggiornabile in loco e economicamente efficace.

Software per ellipsometri integrati SpectraRay/4

SpectraRay/4 è un pacchetto software completo per analisi avanzate dei materiali. SpectraRay/4 include modalità di interazione per la ricerca con interfacce utente grafiche guidate e modalità di formulazione per applicazioni convenzionali

Ellipsometri spettrali a basso costo ed efficientiSENpro

Costo-efficienza

SENpro è un ellipsometro spettrale economico senza compromettere le prestazioni di misurazione avanzate.

Variabile in angolo di tiro

L'ellipsometro spettrale SENpro include un angolometro con angolo di visione variabile, da 40° a 90°, con un passo di 5°, per ottimizzare le misurazioni elliptiche.

Analizzatore di scansione a passi

SENpro dispone di un analizzatore di scansione a passo unico. Durante l'acquisizione dei dati, il polarizzatore e il compensatore sono fissati per fornire un'alta precisione di misurazione ellittica.