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EDS a plug piatto di Brooke – XFlash FlatQUAD, alta efficienza e sensibilità per la rilevazione a raggi X
La massima efficienza e sensibilità per la rilevazione a raggi X: XFlash FlatQUADQUANTAX FlatQUAD è un sistema di analisi microregionale EDS basato su
Dettagli del prodotto

XLa massima efficienza e sensibilità per la rilevazione dei raggi——XFlash FlatQUAD

QUANTAX FlatQUAD è un sistema di analisi microregionale EDS basato sul rivoluzionario rilevatore FlatQUAD XFlash. Questo rilevatore SDD anello a quattro canali di design unico funziona tra gli stivali polari dell'elettroscopio di scansione e il campione per ottenere analisi EDS con angoli solidi più grandi. In combinazione con il software di analisi ESPRIT, il sistema QUANTAX FlatQUAD fornisce una distribuzione superficiale ottimale per campioni che sono difficili da analizzare con la tradizionale spettroscopia inclinata. Nel componente della sonda del rilevatore XFlash FlatQUAD, quattro chip a deriva di silicio separati sono disposti in anelli attorno al foro centrale attraverso il quale passano i fasci di elettroni in ingresso. Il materiale del rilevatore è stato scelto appositamente per evitare l'impatto sul fascio di elettroni, garantendo immagini elettroscopiche di alta qualità. Usando una nuova tecnologia di rilevamento,

Il cuore del sistema QUANTAX FlatQUAD: il rilevatore FlatQUAD XFlash

Sulla base di un nuovo concetto di progettazione del rilevatore, installato nell'interfaccia orizzontale del magazzino di campioni dell'elettroscopio di scansione, il rilevatore è posizionato tra gli stivali polari dell'elettroscopio e il campione. I rilevatori tradizionali utilizzano l'interfaccia inclinata dell'elettroscopio. Il rilevatore XFlash FlatQUAD è compatibile con diversi tipi di elettroscopi a scansione. I rivelatori sono dotati di speciali finestre polimeriche di diversi spessori che assorbono elettroni retrodispersi a diverse tensioni di accelerazione.


Angoli solidi ottimizzati per l'analisi della spettroscopia a scansione:

La posizione e le dimensioni del chip rilevatore XFlash FlatQUAD (area effettiva 4 x 15 mm) forniscono un angolo solido più grande per la raccolta dei raggi X nell'elettroscopio di scansione. Possibilità di ottenere un angolo solido superiore a 1sr e un angolo di rilevamento di almeno 60°.


Alta capacità di conteggio e risoluzione energetica

L'elevata efficienza di acquisizione porta ad un tasso di conteggio estremamente elevato, con ogni chip dotato di un canale di elaborazione del segnale indipendente. I tassi di conteggio di ingresso (ICR) e di conteggio di uscita (OCR) possono raggiungere rispettivamente 4.000 kcp/s e 1.600 kcp/s. La tecnologia SDD di Brooke Professional consente a XFlash FlatQUAD di garantire risoluzioni energetiche fino a Mn-Kα126eV, C-K 51eV, F-K60eV a un tasso di conteggio di 100 kcps).


Principio:

XFlash FlatQUAD è un rilevatore a plug piatto che si colloca tra gli stivali polari dell'elettroscopio di scansione e il campione. Quattro cristalli a deriva di silicio sono disposti in un anello attorno al foro centrale e il fascio di elettroni entranti attraversa il foro centrale. Adatto a diverse distanze di lavoro e con prestazioni eccellenti.


布鲁克平插式EDS ——XFlash FlatQUAD,X射线探测的高效率与灵敏度布鲁克平插式EDS ——XFlash FlatQUAD,X射线探测的高效率与灵敏度布鲁克平插式EDS ——XFlash FlatQUAD,X射线探测的高效率与灵敏度布鲁克平插式EDS ——XFlash FlatQUAD,X射线探测的高效率与灵敏度布鲁克平插式EDS ——XFlash FlatQUAD,X射线探测的高效率与灵敏度

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