EM-AFM può essere utilizzato inSEMContemporaneamente fornendo imaging atomico di microscopia di forza e misura nanomeccanica. Combina i vantaggi di queste due tecnologie, può ottenere immagini 3D ad alta risoluzione ad alta velocità e osservare l'interazione delle forze nanoscale in tempo reale alle scale micro nano e sub nano, che è diverso dai metodi convenzionaliSEM/FIBCompatibile e compatibile conEDS, EBSD, WSDCompatibili.

funzione principale

EM-AFM può essere utilizzato inSEMContemporaneamente fornendo imaging atomico di microscopia di forza e misura nanomeccanica. Combina i vantaggi di queste due tecnologie e può eseguire la scansione morfologica3DImmagini, nanoindentazione/Prove di trazione nanometriche, ecc.

lCARATTERISTICHE

Ottenimento simultaneoAFMeSEMimaging

Completamente compatibile con i microscopi elettronici a scansione tradizionali

Sostituzione semplice del campione

Scansione morfologica ad altissima risoluzione

Misura di Nanoforce tramite il metodo di Nanoindentazione

Elevata stabilità operativa, non influenzata daSEMInterferenza del fascio elettronico

Blocco sottovuoto compatibile

Capacità tecniche

3,Applicazione

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