principale
Strumento e misuratore
Macchina di pulizia della macchina per incisione al plasma desktop di serie Co
Sistema ADR a temperatura costante a bassa temperatura secco mK
Macchina di taglio del vetro di precisione (tipo desktop)
Campionamento laser
LAVIDA Paraxilene Coating Equipment
Macchina di pulizia della macchina per incisione al plasma dual-mode CLONE
Macchina per la pulizia del campione al microscopio elettronico
Sistema di deposizione a strati atomici Prodotti ALD
Macchina litografica a interferenza laser
Stampante 3D ad alta temperatura
Analizzatore di granulometria liquida
Scrittura diretta laser senza maschera
NX Wafer Microscopio della forza atomica completamente automatizzato di ispezione del wafer
Rilevatore di stress interno
Strumento di misura dello sforzo di deformazione delle cialde
Tester di forma 3D di superficie libera
Microscopio iperspettrale
Evaporazione termica di BenchTop Turbo e preparazione del campione
Analizzatore ottico di difetti superficiali
substrato di chip SERS
Desktop Pro Thin Film Deposition - Magnetron Sputtering
Sistema di rilevazione spettrale per immagini a fluorescenza catodica
P17 profilatometro automatico a sonda wafer/misuratore a gradini
Microscopio elettronico EM-AFM in situ a forza atomica
NX-HDM microscopio della forza atomica completamente automatico di rilevamento dei difetti
Operazione riuscita!
